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菲希爾（Helmut Fischer）電鍍測厚儀

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菲希爾（Helmut Fischer）電鍍測厚儀

Helmut-Fischer成立于1953年，是為精密材料分析，材料測試，涂層厚度，顯微硬度，電導(dǎo)率和鐵素體含量測量以及陽極密封和孔隙率測試提供儀器和解決方案的創(chuàng)新**者。基于其豐富的經(jīng)驗，該公司能夠為這些領(lǐng)域中的任何一個領(lǐng)域的項目提供理想解決方案。菲希爾（Helmut Fischer）活躍于，Helmut Fischer公司在有13個子公司和32個銷售辦事處，分布在主要的工業(yè)國家。篤摯儀器代理供應(yīng)的產(chǎn)品代表著高質(zhì)量的標準和很高的精度。篤摯儀器代理供應(yīng)的德國菲希爾所有的產(chǎn)品都是在德國辛德爾芬根的良好工廠生產(chǎn)的。優(yōu)質(zhì)的客戶服務(wù)，并享有很高的客戶忠誠度。篤摯儀器是可靠且稱職的合作伙伴，可提供專業(yè)的咨詢，廣泛的服務(wù)和以實踐為導(dǎo)向的培訓(xùn)活動。今天，F(xiàn)ISCHER儀器已成功應(yīng)用于汽車，汽車零部件，電鍍，粉末涂料，電子，電氣，鍍鋅，研究與開發(fā)以及其他各個領(lǐng)域。 篤摯儀器致力于為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和服務(wù)，以提高和提高其終產(chǎn)品的質(zhì)量，生產(chǎn)率和可靠性。

FISCHER—讓測量變得簡便

    現(xiàn)今，F(xiàn)ISCHER 的測量和分析儀器廣泛應(yīng)用于世界各個領(lǐng)域，可滿足客戶對高精度、高可靠性測量和操作簡便的需求。我們通過專業(yè)的咨詢服務(wù)為客戶提供理想的解決方案，即從第*次接觸開始，不斷溝通，直至達到定制化服務(wù)的理念。這些緊密合作與我們的創(chuàng)新驅(qū)動力不斷結(jié)合，為形成新的測量解決方案奠定了堅實的基礎(chǔ)。ISOSCOPE®、 DELTASCOPE® 和DUALSCOPE® 手持式儀 器，配合各種探頭使用，可以簡單、快速地測量涂鍍層的厚度。FISCHERSCOPE® MMS® PC, 集成了磁感應(yīng)法、渦流法和BETA背反射法的多功能測量系統(tǒng)，用于測量鍍層厚度和材料測試。FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 基于X射線熒光法，用于測量鍍層厚度和材料分析 。

涂鍍層測厚儀：

膜厚測量：      無論是在鐵磁性材料上還是在非鐵磁性材料上測量涂層厚度或電鍍層厚度，您都可以在FISCHER功能強大的手持式儀器分類中找到合適的便攜式測厚儀。無論您有什么樣的測量需求，又或者要面對多少種不同的基體材料， FISCHER 的儀器和探頭必能讓您的測量手到擒來。根據(jù)您的需求選擇合適的型號，點擊查看詳細信息，如有任何疑問，或是想了解fischer更多產(chǎn)品信息，如：可選探頭、校準片、X-RAY膜厚儀、孔隙率測試儀等歡迎在線留言或電詢！

FMP10	FMP20		FMP30	FMP40
手持式FMP系列是基于磁感應(yīng)法(DELTACOPE),電渦流(ISOSCOPE)和兩用方法(DUALSCOPE),   采用了可更換探頭的設(shè)計，非常適用于對涂鍍層進行無損測量。儀器的模塊化設(shè)計，可供客戶根據(jù)不同的測量需求選配不同的測量系統(tǒng).除了眾多的測厚儀機型之外, FISCHER公司還向客戶提供大量不同功能的高精度探頭.  DeltascopeFMP10和FMP30機型適用于測量鐵基體上涂鍍層厚度。 Isocope FMP10和FMP30機型是專為高精度測量非鐵 金屬上的超薄涂鍍層厚度而設(shè)計的。Dualscope FMP20和FMP40機型可以測量幾乎所有金屬底材上的涂鍍層厚度。			FMP10和FMP20型測厚儀是專業(yè)便攜式測量系統(tǒng)中的入門級機型， 是現(xiàn)場檢查和控制測量的理想選擇。它們操作簡便，機體堅固并 配有一塊高對比度彩色顯示屏和一個USB端口，可以輕松地將測 量數(shù)據(jù)傳輸?shù)诫娔X，并通過便利的FISCHER DataCenter軟件進 行計算和儲存.FMP30和FMP40型儀器為測量數(shù)據(jù)的獲取提供了多的策略,為儲存客戶自定義的測量應(yīng)用提供更多的空間*多可以儲存20000個數(shù)據(jù)，更是提供了藍牙數(shù)據(jù)傳輸功能。大量的圖形和統(tǒng)計功能使其能更適用于復(fù)雜的測量應(yīng)用. 另外儀器可以根據(jù)內(nèi)置的IMO PSPC、SSPC-PA2,QUALANOD 和 QUALICOAT規(guī)則進行測量。