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產(chǎn)品展示
Couloscope CMS2庫侖測厚儀
Couloscope CMS2庫侖測厚儀
這個系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法。金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下電解腐蝕--------實際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要剝離的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面積保持不變，鍍層厚度與電解時間就是成正比的關(guān)系。
COULOSCOPE CMS2 庫侖法測厚儀的儀器通過電解去除層來測量涂層厚度。 特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。 CSM2 STEP版本，用于單層標(biāo)準(zhǔn)的STEP測試測量，并檢測潛在的差異，例如在鎳多層質(zhì)量控制中。同時測量涂層厚度和電化學(xué)電位根據(jù)庫侖法。
主要特征：
1.使用高精度電解脫鍍技術(shù)（庫侖法）測量多層
2.易于操作的顯示和圖形支持的用戶指導(dǎo)
3.普遍適用于金屬和非金屬基材的測量，也適用于多層涂料
4.通過全面的附件組合適應(yīng)具體要求
5.單涂層和多涂層系統(tǒng)的測量
6.圖形顯示，用于清晰的測量視圖，設(shè)定的涂層系統(tǒng)以及脫模速率和測試區(qū)域尺寸等參數(shù)。
7.液晶顯示屏上電池電壓的圖形顯示。
8.大多數(shù)金屬涂層的許多預(yù)定義的測量應(yīng)用
9.可選擇的測量單位：μm或mils
10.歐洲，南美和亞洲的顯示語言
應(yīng)用：
- 金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層
- 單層或多層的鍍層厚度測量
- 特別適用于通過 STEP 測試進行多層鎳測量
- 適用于 0.05 μm 至 40 μm 的鍍層厚度測量
