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測(cè)厚儀Mintest 3100膜厚測(cè)試儀華東區(qū)總代理

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可選探頭
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
文章鏈接:中國(guó)化工儀器網(wǎng) http://www.chem17.com/company_news/Detail/246525.html
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

MiniTest涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)

  所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
  F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
  N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層 
  FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

探頭

量程

低端分辨率

誤差

zui小曲率半徑

zui小測(cè)量區(qū)域直徑

zui小基體厚度

探頭尺寸
(mm)



應(yīng)

F05

0-500um

0.1um

±(1%±0.7um)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62

F1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62

F1.6/90

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170

F2/90

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170

F3

0-3000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62

F10

0-10mm

5um

±(1%±10um)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46

F20

0-20mm

10um

±(1%±10um)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66

F50

0-50mm

10um

±(3%±50um)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70


FN1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50um

φ15x62

FN1.6P

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面

30mm

F0.5mm/N50um

φ21x89

FN2

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50um

φ15x62




N02

0-200um

0.1um

±(1%±0.5um)

1/10mm

2mm

50um

φ16x70

N.08Cr

0-80um

0.1um

±(1%±1um)

2.5mm

2mm

100um

φ15x62

N1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

2mm

50um

φ15x62

N1.6/90

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面/10mm

5mm

50um

φ13x13x170

N2

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

50um

φ15x62

N2/90

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

平面/10mm

5mm

50um

φ13x13x170

N10

0-10mm

10um

±(1%±25um)

25/100mm

50mm

50um

φ60x50

N20

0-20mm

10um

±(1%±50um)

25/100mm

70mm

50um

φ65x75

N100

0-100mm

100um

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50um

φ126x155

CN02

10-200um

0.2um

±(1%±1um)

平面

7mm

無(wú)限制

φ17x80

 

注:

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

 

 

FN1.6

0~1600μm,φ5mm
兩用測(cè)頭,可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm)

 

FN1.6P

0~1600μm,φ30mm
兩用測(cè)頭,特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度

 

FN2

0~2000μm,φ5mm
兩用測(cè)頭,可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層

 

F05

0~500μm,φ3mm
磁性測(cè)頭,適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很高(O.1μm)

 

F1.6

0~1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭量程低端分辨率很高(O.1μm)

 

F3

0~3000μm,φ5mm
磁性測(cè)頭可用于較厚的覆層

 

F1.6/90

0~1600μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭,尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量量程低端分辨率很高(O.1μm)

 

F2/90

0~2000μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭,尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量

 

F10

0~10mm,φ20mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

 

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