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Elektrophysik公司測厚儀
更新時間:2017-06-27   點擊次數(shù):1731次

Elektrophysik公司測厚儀

 

Elektrophysik公司測厚儀型號介紹:
 

涂層測厚儀
(別名:涂鍍層測厚儀,覆層測厚儀,鍍層厚度測量儀,涂鍍層厚度無損測量儀,手持式涂鍍層測厚儀,表面電鍍層厚度測量儀,油漆涂層測厚儀,便攜式涂層測厚儀,*涂層測厚儀,無損測厚儀)
MiniTest 7400
 MiniTest 600:
MiniTest 600 BF(鐵基體)
MiniTest 600 BN(非鐵基體)
MiniTest 600 BFN(兩用)
MiniTest 600 F停產(chǎn)(600 BF替代)
MiniTest 600 N停產(chǎn)(600 BN替代)
MiniTest 600 FN停產(chǎn)(600 BFN替代)
 MiniTest 720/730/740
MiniTest 725/735/745
 MiniTest 70:
MiniTest 70 E-FN
MiniTest 70 B-FN
 MiniTest 1100-4100:
MiniTest 1100
MiniTest 2100
MiniTest 3100
MiniTest 4100
麥考特機械涂層測厚儀MIKROTEST:
MIKROTEST G6 
MIKROTEST F6
MIKROTEST S3 6
MIKROTEST S5 6
MIKROTEST S10 6
MIKROTEST S20 6
MikroTest NiFe50 6
MikroTest Ni50
MikroTest Ni100
濕膜輪測厚儀,機械式涂層測厚儀PhysiTest15201/PhysiTest15202/PhysiTest15203
超聲涂層測厚儀
(別名:非金屬涂層測厚儀,非導電基材涂層測厚儀,塑料涂層測厚儀。。。)
QUINTSONIC 7
筆式涂層測厚儀PENTEST
庫侖鍍層測厚儀
(別名:腐蝕法測厚儀,多層鍍層測厚系統(tǒng),金屬鍍層厚度測定儀,電解法測厚儀。。。)
GALVANOTEST 2000
GALVANOTEST 3000
霍爾效應(yīng)瓶壁測厚儀
(別名:磁性法壁厚測量儀,塑料瓶壁厚測量儀。。。)
MiniTest 7200 FH
MiniTest 7400 FH
  
超聲波測厚儀
(別名:壁厚測量儀,板厚測量儀,復合材料分層測厚儀。。。)
MiniTest 420/430/440
 MiniTest 403(停產(chǎn))
 MiniTest 405(停產(chǎn))
 MiniTest 400/400A/400B

 

測厚儀MINITEST功能 

型號

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量

應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

1

1

10

99

每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計,可設(shè)寬容度極限值)

-

1

10

99

可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)

-

1

500

500

數(shù)據(jù)總量

1

10000

10000

10000

MINITEST統(tǒng)計計算功能

讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar

-

讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar

-

-

組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

-

-

-

分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值

-

-

顯示并打印測量值、打印的日期和時間

-

其他功能

透過涂層進行校準(CTC)

-

在粗糙表面上作平均零校準

利用計算機進行基礎(chǔ)校準

補償一個常數(shù)(Offset)

-

-

外設(shè)的讀值傳輸存儲功能

-

保護并鎖定校準設(shè)置

更換電池是存儲數(shù)值

設(shè)置極限值

-

-

公英制轉(zhuǎn)換

連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值

-

-

連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

-

-

浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送

組內(nèi)單值延遲顯示

-

連續(xù)測量模式中顯示zui小值

 

 

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